近場掃描光學顯微鏡

近場光學示意圖，繞射光從NSOM的光纖探針出來，此圖可以看到光波長。[1]

分別使用NSOM(上)和传统的共軛焦焦显微镜 (下)來比較二硫化钼薄片的光致發光記錄，比例尺長度：1微米。[2]

近场扫描光学显微镜 (NSOM/SNOM)是一个 显微镜 技术，用于结构调查，其利用渐逝波的特性打破远场中繞射極限 。 在SNOM， 激发激光光透过一个直径小于雷射波长的孔徑聚焦，从而在孔徑的遠端產生消逝场。[3] 当样品在短距離地在孔徑下扫描，光學解析度只跟孔径的直徑有關。 此時，横向分辨率可達20 纳米、垂直分辨率可達2-5 纳米。[4][5]

如光学显微镜、此机制可以用於研究的不同性质，例如 折射率、化学结构和侷域压力。也可以研究在次波長解析度下的动态特性。

NSOM/SNOM是一种扫描探针显微镜.

参考文献

1. (学位论文).  缺少或|title=为空 (帮助)
2. Bao, Wei; Borys, Nicholas J.; Ko, Changhyun; Suh, Joonki; Fan, Wen; Thron, Andrew; Zhang, Yingjie; Buyanin, Alexander; Zhang, Jie. Visualizing nanoscale excitonic relaxation properties of disordered edges and grain boundaries in monolayer molybdenum disulfide. Nature Communications. 2015, 6: 7993. Bibcode:2015NatCo...6E7993B. PMC 4557266 . PMID 26269394. doi:10.1038/ncomms8993. 
3. Germany, WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH, Ulm,. SNOM || WITec. www.witec.de. [2017-04-06]. （原始内容存档于2021-02-28） （美国英语）. 
4. Dürig, U.; et al. Near-field optical scanning microscopy. J. Appl. Phys. 1986, 59 (10): 3318. Bibcode:1986JAP....59.3318D. doi:10.1063/1.336848. 
5. Oshikane, Y.; et al. Observation of nanostructure by scanning near-field optical microscope with small sphere probe. Sci. Technol. Adv. Mater. (free access)使用|format=需要含有|url= (帮助). 2007, 8 (3): 181. Bibcode:2007STAdM...8..181O. doi:10.1016/j.stam.2007.02.013. 

外部链接

• SNOM Scan Image Gallery. [2019-02-01]. （原始内容存档于2008-10-02）.