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微帶線的橫截面圖。導線(A)與(D)接地 層藉由(C)介質 層分離。此外,(B)上介質層通常為空氣。
微帶線 (英語:Microstrip )传输线 [ 1] ,可以做成印刷电路板 上用來傳輸微波 信號的線路。它由導線、地以及介質 層組成。諸如天線 、耦合器、濾波器 、功率分配器 等可由微帶線構成。帶線比傳統的波導 技術更便宜、更輕、更緊湊。微帶線由ITT實驗室開發,作為帶狀線 的競爭者(Grieg和Engelmann在1952年12月IRE會議記錄中首次發表[ 2] )。
與波導相比,微帶的缺點是通常較低的功率處理能力和較高的損耗。而且,與波導不同,微帶不是封閉的,因此易受串擾 和輻射 的影響。
為了降低成本,PCB 上通常使用FR-4當基板。然而FR4的介電損耗在微波 頻率下太高,並且介電常數沒有被充分嚴格控制。由於這些原因,通常使用氧化鋁 基板。在較小規模上,微帶傳輸線也構建在單片微波集成電路中。
微帶線也用於高速PCB設計,其中信號需要從組件的一部分路由到另一部分,具有最小的失真 ,並且避免高串擾和輻射 。
微帶線是平面傳輸線 的一種,其他包括帶狀線和共面波導 ,並且可以將這些不同類型的傳輸線集成在同一基板上。
差分微帶線 通常用於高速信號,比如DDR2 SDRAM 時鐘、USB 高速數據線 、PCI 數據線、LVDS 數據線等,並且通常都在同一個PCB裡[ 3] [ 4] [ 5] 。大多數PCB設計工具都支持這種差异对 。[ 6] [ 7]
不均匀性
微帶線的設計是不對襯的,其介質是不均勻的。由微帶線承載的電磁波部分地存在於介電基板中,另一部分則在上方的空氣 中。基板的介電常數 通常比空氣電容率 更大,使得電磁波 在非均勻介質 中行進。這使得電磁波傳播速度介於空氣以及電介質之間。這種情況需要由效相對介電常數來描述。
不均匀介質的影響包括:
微帶線上沒有嚴格的TEM波;其E 和H领域 都有纵向分。[ 8] 然而縱向分量都十分的小,被稱為准TEM波。[ 9]
这条线是色散 的。隨著頻率的增加,有效介電常數逐漸上升到基板的介電常數,因此,相速度 會逐渐下降。[ 8] [ 10] 即使使用非色散 的基板材料也是如此(基板介電常數通常會隨著頻率的增加而下降)。
即使使用非色散 的基板材料微帶線的特征阻抗 會隨著頻率 略有變化。非TEM模式的特徵阻抗不是唯一的,隨著不同定義有不同的值,並且隨著頻率的增加而上升。[ 11] 特徵阻抗的低頻極限被稱為準靜態特性阻抗,並且對所有定義都是相同的。
波阻抗 在微帶線橫截面上變化。
微帶線輻射和不連續元件,例如短截線和柱,其在帶狀線中將是純電抗,由於來自它們的輻射而具有小的電阻分量。[ 12]
特徵阻抗
美國工程師哈羅德·惠勒 發表了微帶線的準靜態特徵阻抗的閉合近似表達式:[ 13] [ 14] [ 15]
Z
microstrip
=
Z
0
2
π
2
(
1
+
ε
r
)
l
n
(
1
+
4
h
w
eff
(
14
+
8
ε
r
11
4
h
w
eff
+
(
14
+
8
ε
r
11
4
h
w
eff
)
2
+
π
2
1
+
1
ε
r
2
)
)
,
{\displaystyle Z_{\textrm {microstrip}}={\frac {Z_{0}}{2\pi {\sqrt {2(1+\varepsilon _{r})}}}}\mathrm {ln} \left(1+{\frac {4h}{w_{\textrm {eff}}}}\left({\frac {14+{\frac {8}{\varepsilon _{r}}}}{11}}{\frac {4h}{w_{\textrm {eff}}}}+{\sqrt {\left({\frac {14+{\frac {8}{\varepsilon _{r}}}}{11}}{\frac {4h}{w_{\textrm {eff}}}}\right)^{2}+\pi ^{2}{\frac {1+{\frac {1}{\varepsilon _{r}}}}{2}}}}\right)\right),}
其中
w
e
f
f
{\displaystyle w_{\mathrm {eff} }}
是有效宽度,这是实际宽度w的修正,藉此計算出導線厚度對阻抗的影響:
w
eff
=
w
+
t
1
+
1
/
ε
r
2
π
ln
(
4
e
(
t
h
)
2
+
(
1
π
1
w
/
t
+
11
/
10
)
2
)
.
{\displaystyle w_{\textrm {eff}}=w+t{\frac {1+1/\varepsilon _{r}}{2\pi }}\ln \left({\frac {4e}{\sqrt {\left({\frac {t}{h}}\right)^{2}+\left({\frac {1}{\pi }}{\frac {1}{w/t+11/10}}\right)^{2}}}}\right).}
此处Z 0 是自由空間阻抗 ,ε r 是介質層的相對電容率 ,w 是導線宽度,h 是介質層厚度,t 是導線厚度。
这个公式是漸近展開 ,以計算在三个不同的情况下的特徵阻抗
w
≫
h
{\displaystyle w\gg h}
任何
ε
r
{\displaystyle \varepsilon _{r}}
(平行板传输线),
w
≪
h
{\displaystyle w\ll h}
,
ε
r
=
1
{\displaystyle \varepsilon _{r}=1}
(接地層上的傳輸線),
w
≪
h
{\displaystyle w\ll h}
,
ε
r
≫
1.
{\displaystyle \varepsilon _{r}\gg 1.}
文獻指出,在大多数的情况下誤差小于1%,無論任何情況都不會大於2%。[ 15] 通过一个公式涵盖所有w與h的比例,惠勒1977年改进了1965年的公式[ 14] ,给一个公式
w
/
h
>
3.3
{\displaystyle w/h>3.3}
和另一对
w
/
h
≤
3.3
{\displaystyle w/h\leq 3.3}
(因此引入不连续性的结果
w
/
h
=
3.3
{\displaystyle w/h=3.3}
)。
奇怪的是,惠勒不喜欢「微带線」和「特征阻抗」這兩個名詞,并避免在他的论文中使用。
也有其他作者提出特徵阻抗的近似公式。 然而,大多数的这些都是仅适用于有限的w/h,或者分段計算整个w/h的范围。
尤其是Hammerstad修正惠勒的研究成果後[ 13] [ 14] 所提出的公式[ 16] ,也许是最常被引用的:
Z
microstrip
=
{
Z
0
2
π
ε
eff
l
n
(
8
h
w
+
w
4
h
)
,
when
w
h
≤
1
Z
0
ε
eff
[
w
h
+
1.393
+
0.667
l
n
(
w
h
+
1.444
)
]
,
when
w
h
≥
1
{\displaystyle Z_{\textrm {microstrip}}={\begin{cases}{\frac {Z_{0}}{2\pi {\sqrt {\varepsilon _{\textrm {eff}}}}}}\mathrm {ln} \left(8{\frac {h}{w}}+{\frac {w}{4h}}\right),&{\text{when }}{\frac {w}{h}}\leq 1\\{\frac {Z_{0}}{{\sqrt {\varepsilon _{\textrm {eff}}}}\left[{\frac {w}{h}}+1.393+0.667\mathrm {ln} \left({\frac {w}{h}}+1.444\right)\right]}},&{\text{when }}{\frac {w}{h}}\geq 1\end{cases}}}
其中,
ε
eff
{\displaystyle \varepsilon _{\textrm {eff}}}
是有效介电常数 ,由於微帶線的電場 與磁場 一部分在介質層,另一部分在空氣,所以
ε
eff
{\displaystyle \varepsilon _{\textrm {eff}}}
必介於1與ε r 之間。其物理意義為在介質層與空氣之間的導線,等效於導線被包覆在一個相對電容率
ε
eff
{\displaystyle \varepsilon _{\textrm {eff}}}
的均勻介質中,導線與該介質下方的接地層距離為h,導線寬度W:[ 17]
ε
eff
=
ε
r
+
1
2
+
ε
r
−
1
2
(
1
1
+
12
(
h
/
w
)
)
.
{\displaystyle \varepsilon _{\textrm {eff}}={\frac {\varepsilon _{\textrm {r}}+1}{2}}+{\frac {\varepsilon _{\textrm {r}}-1}{2}}\left({\frac {1}{\sqrt {1+12(h/w)}}}\right).}
拐角
為了構建完整的電路,通常需要微帶線的路徑轉過大角度 。 微帶線中突然90°的轉彎會導致大量的反射 。實現低反射拐角的一種方法是將微帶線的路徑彎曲半徑 至少為微帶線3倍寬度的弧形[ 18] 。 然而,更常見的技術並且能減少襯底面積的技術是使用切角。
微带90°mitred弯曲。 该百分比米特为100/d
在一级近似层面上来看,突然的非切角弯曲表现为一个电容接在地平面与弯曲处之间,产生分流。 切角弯曲减少了金属化区域的面积,从而避免了多余的电容。
切角百分比指的是未切角的内外顶点间对角线上,切角切去的对角线长度与原始对角线长度的比。对各种几何形状均适用的最佳切角百分比由 Douville 和 James 通过实验确定。[ 19]
他们发现的一个最佳切角百分比可由下式取得:
M
=
100
x
d
%
=
(
52
+
65
e
−
27
20
w
h
)
%
{\displaystyle M=100{\frac {x}{d}}\%=(52+65e^{-{\frac {27}{20}}{\frac {w}{h}}})\%}
,限制条件是
w
/
h
≥
0.25
{\displaystyle w/h\geq 0.25}
和相对介电常数
ε
r
≤
25
{\displaystyle \varepsilon _{r}\leq 25}
。
尽管有以上限制条件,这个公式是完全与
ε
r
{\displaystyle \varepsilon _{r}}
无关的。
Douville 和 James 有证据表明参数的实用范围是
0.25
≤
w
/
h
≤
2.75
{\displaystyle 0.25\leq w/h\leq 2.75}
和
2.5
≤
ε
r
≤
25
{\displaystyle 2.5\leq \varepsilon _{r}\leq 25}
。他们报告称,根据原始的d使用上式计算得到的切角百分比,在±4%的范围内,VSWR 均小于1.1。[ 19] 在最小的
w
/
h
=
0.25
{\displaystyle w/h=0.25}
的情况下,切角百分比为98.4%,此时微带线几乎被完全切断。
无论是圆弧弯曲还是切角的方法,微带线的电长度总是比物理路径长度短一些。
參見
分布式元件的过滤器
Spurline、微带的缺口的过滤器
參考資料
^ 微帶線microstrip line . 國家教育研究院. 2007-11-07 [2019-04-29 ] . (原始内容 存档于2019-08-16) (中文(臺灣)) .
^ Grieg, D. D.; Engelmann, H. F. Microstrip-A New Transmission Technique for the Klilomegacycle Range. Proceedings of the IRE. Dec 1952, 40 (12): 1644–1650. ISSN 0096-8390 . doi:10.1109/JRPROC.1952.274144 .
^ Olney, Barry. Differential Pair Routing (PDF) . [2019-04-29 ] . (原始内容 (PDF) 存档于2022-03-07).
^ Texas Instruments. High-Speed Interface Layout Guidelines (PDF) . 2015 [2019-04-29 ] . (原始内容 (PDF) 存档于2015-11-06). When possible, route high-speed differential pair signals on the top or bottom layer of the PCB with an adjacent GND layer. TI does not recommend stripline routing of the high-speed differential signals.
^ Intel. High Speed USB Platform Design Guidelines (PDF) . 2000 [2019-04-29 ] . (原始内容 (PDF) 存档于2018-08-26).
^ Silicon Labs. USB Hardware Design Guide (PDF) . [2019-04-29 ] . (原始内容 (PDF) 存档于2016-07-05).
^ Kröger, Jens. Data Transmission at High Rates via Kapton Flexprints for the Mu3e Experiment (PDF) : 19–21. 2014 [2019-04-29 ] . (原始内容 (PDF) 存档于2016-03-04).
^ 8.0 8.1 Denlinger, E. J. A frequency dependent solution for microstrip transmission lines. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. January 1971, MTT–19 (1): 30–39. Bibcode:1971ITMTT..19...30D . doi:10.1109/TMTT.1971.1127442 .
^ Pozar, David M. (2017). Microwave Engineering Addison–Wesley Publishing Company. ISBN 978-81-265-4190-4 .
^ Cory, H. Dispersion characteristics of microstrip lines. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. January 1981, MTT–29 : 59–61.
^ Bianco, B.; Panini, L.; Parodi, M.; Ridetlaj, S. Some considerations about the frequency dependence of the characteristic impedance of uniform microstrips. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. March 1978, MTT–26 (3): 182–185. Bibcode:1978ITMTT..26..182B . doi:10.1109/TMTT.1978.1129341 .
^ Oliner, Arthur A. Sarkar, Tappan K.; Mailloux, Robert J.; Oliner, Arthur A.; Salazar-Palma, Magdalena; Sengupta, Dipak L. , 编. History of wireless. Wiley Series in Microwave and Optical Engineering 177 . John Wiley and Sons. 2006: 559. ISBN 978-0-471-71814-7 .
^ 13.0 13.1 Wheeler, H. A. Transmission-line properties of parallel wide strips by a conformal-mapping approximation. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. May 1964, MTT–12 (3): 280–289. Bibcode:1964ITMTT..12..280W . doi:10.1109/TMTT.1964.1125810 .
^ 14.0 14.1 14.2 Wheeler, H. A. Transmission-line properties of parallel strips separated by a dielectric sheet. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. March 1965, MTT–13 (2): 172–185. Bibcode:1965ITMTT..13..172W . doi:10.1109/TMTT.1965.1125962 .
^ 15.0 15.1 Wheeler, H. A. Transmission-line properties of a strip on a dielectric sheet on a plane. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. August 1977, MTT–25 (8): 631–647. Bibcode:1977ITMTT..25..631W . doi:10.1109/TMTT.1977.1129179 .
^ E. O. Hammerstad, Equations for Microstrip Circuit Design, 1975 5th European Microwave Conference, 1975: 268–272, doi:10.1109/EUMA.1975.332206
^ David M. Pozar. 《微波工程》. 由郭仁財翻譯. 高立圖書. 2016: 第143頁. ISBN 9789863780809 .
^ Lee, T. H. Planar Microwave Engineering. Cambridge University Press. 2004: 173–174.
^ 19.0 19.1 Douville, R. J. P.; James, D. S. Experimental study of symmetric microstrip bends and their compensation. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. March 1978, MTT–26 (3): 175–182. Bibcode:1978ITMTT..26..175D . doi:10.1109/TMTT.1978.1129340 .
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