Муравський Леонід Ігорович
Леоні́д І́горович Мура́вський (*2 травня 1953, Турійськ) — член-кореспондент НАН України, доктор технічних наук, професор, провідний науковий співробітник Фізико-механічного інституту (ФМІ) ім. Г.В. Карпенка Національної академії наук (НАН) України. Народився 2 травня 1953 року у смт. Турійськ Турійського району Волинської області. У 1975 р. закінчив фізичний факультет Львівського державного університету ім. І. Я. Франка за спеціальністю «Оптичні прилади і спектроскопія». Біографічні відомостіДосвід роботи:
З 1995 року і дотепер працює за сумісництвом на кафедрі фотоніки НУ «Львівська політехніка» на посадах доцента, професора. З 2006 по 2009 роки працював в Інституті Інформатики Лодзького технічного університету (м. Лодзь, Польща) на посаді ад’юнкт-професора. З 2012 по 2017 роки працював за сумісництвом на кафедрі оптоелектроніки та інформаційних технологій Львівського національного університету ім. Івана Франка на посаді професора. Наукова діяльність:
Наукова кар'єраНауковий ступінь: кандидат технічних наук, доктор технічних наук. У 1989 році захистив кандидатську дисертацію на тему «Оптимизация параметров информационно-измерительных оптико-электронных систем структурного анализа контурно-штриховых изображений» у Фізико-механічний інститут ім. Г.В.Карпенка (ФМІ) Національної Академії наук України . У 2002 році захистив докторську дисертацію на тему «Побудова оптико-цифрових інформаційно-вимірювальних систем для обробки і кореляційного аналізу бінарних зображень» у Фізико-механічному інституті ім. Г. В. Карпенка НАН України. Науковий та науково-методичний доробок: більше 300 наукових праць, в тому числі 6 монографій, 1 підручник, 3 розділи до книг, 24 винаходи. Вчене звання: професор (2015, Фізико-механічний інститут ім. Г. В. Карпенка НАН України), член-кореспондент НАН України (2021). Наукові інтересиОптико-цифрова обробка зображень, оптична діагностика матеріалів та елементів конструкцій, оптична метрологія поверхні, фазозсувна інтерферометрія, електронна спекл-інтерферометрія, цифрова спекл-кореляція, цифрова голографія, спекл-метрологія для задач механіки руйнування, технічної діагностики, неруйнівного контролю і агробіології, розпізнавання образів, оптичний захист інформації, дешифрування і класифікація космічних зображень Землі. Відзнаки
Джерела
|