Joint Test Action Group

Módulo de depuração do Atmel AVR JTAG ICE MKII

Joint Test Action Group (JTAG) foi um grupo criado em 1985 para desenvolver métodos para testar circuitos impressos depois de fabricados.[1] Em 1990, o IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) criou a norma IEEE 1.149,1-1990 intitulado "Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" para homologar os processos de testes.

JTAG também é amplamente usada em circuito integrado (IC) com portas de depuração.

A Microsoft, no XBox, possui um conector JTAG para a realização de testes no console.[2]

Ligações externas

• (em inglês) IEEE Std. 1149.1 - Standard Test Access Port
• (em inglês) JTAG - Compact JTAG Working Group
• (em inglês) Padrão JTAG aberto
• (em inglês) Padrão da Texas

Referências

1. «Cópia arquivada». Consultado em 22 de abril de 2015. Arquivado do original em 23 de fevereiro de 2014 
2. http://www.ocmodshop.com/glossary/joint-test-action-group/

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